GLOBAL FRONTIER - GAON SOLUTION
반도체
Socket Hole Vision Inspection
제품 Solution
반도체 Chip을 검사 위한 Jig의 불량을 검사하는 장비로,
제품의 Bubble, 이물, Short를 Vision Camera로 검사하여 판별하는 설비입니다.
제품 SPEC
- Application Cell Size : 75,90,100,100 Hole Pitch
- Inspection Items : Bubble , 이물 , Short
- Line Scan Camera : 16k
- Measuring Resolution : 50 um
- Scan Speed : 60mm/sec
- Area Camera & Resolution : 6576 x 4384
DC Test Handler
제품 Solution
상세 Spec은 고객센터를 이용해주세요.
제품 SPEC
- UPEH (DC400msec기준) Good 98%, Reject 2% : 20,000ea
- 1日 Capa : 400K ↑
- Cycle Time : 2sec ↓
- DC Unit Change Time : 600sec ↓
- Tray Change Time : 2sec ↓
- Loading / Unloading Time : 20sec ↓
- Sorting Bin : 6 Bin
- Para 수량 : 16 Para (Loading/Unloading),8 Para (Sorting)
MBT Sorter
제품 Solution
상세 Spec은 고객센터를 이용해주세요.
제품 SPEC
- UPEH : 27,000ea (Normal Pitch), 16,000ea (Fine Pitch)
- Para 수량 : 16 Para & 8 Para
- Picker 수량 : 7ea
- Bin Sort : 8Bin
- Rack Buffer : 2ea
- BIB Work Time (320/240 Density기준) : 30sec/22.5sec ↓
- Cycle Time : 2sec
- BIB Change Time : 2sec
- Rack Change Time : 2sec
- Tray Change Time : 3sec